Measurement of Copper in p-Type Silicon Using Charge-Carrier Lifetime Methods

Autor:	Marko Yli-Koski, Hele Savin, E. Saarnilehto, A. Haarahiltunen, Juha Sinkkonen, G. Berenyi, T. Pavelka
Rok vydání:	2005
DOI:	10.4028/3-908451-13-2.643
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fab508a2161fc0b96ab72c74d5407b00 https://doi.org/10.4028/3-908451-13-2.643 Zobrazit plný text záznamu