Characterization of Ga-Doped ZnO Thin Film with Electron Beam Treatment

Autor:	Solbaro Kim, Sangwoo Lim
Rok vydání:	2014
Zdroj:	ECS Meeting Abstracts. :352-352
ISSN:	2151-2043
DOI:	10.1149/ma2014-03/3/352
Popis:	not Available.
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fa3e314130d40d6830e757be64ea3a69 https://doi.org/10.1149/ma2014-03/3/352 Zobrazit plný text záznamu