Factors influencing x-ray scintillation-counter metrological-characteristic stability

Autor:	L. B. Zagarii, Yu. A. Tsirlin, M. E. Globus
Rok vydání:	1989
Předmět:	Materials science Applied Mathematics Scintillation counter X-ray Analytical chemistry Instrumentation Stability (probability) Metrology
Zdroj:	Measurement Techniques. 32:921-924
ISSN:	1573-8906 0543-1972
DOI:	10.1007/bf02112516
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f899179981fd1448c1bb4c358cfef7de https://doi.org/10.1007/bf02112516 Zobrazit plný text záznamu Full text from SpringerLink