Characterization of MMC's and PMC's using Flat Bed Scanners
Autor: | H. G. Schmid |
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Rok vydání: | 2002 |
Předmět: | |
Zdroj: | Materialwissenschaft und Werkstofftechnik. 33:190-193 |
ISSN: | 1521-4052 0933-5137 |
DOI: | 10.1002/1521-4052(200204)33:4<190::aid-mawe190>3.0.co;2-# |
Popis: | Quality control needs highly reproducible and statistically well based methods. The very limited observable area of microscopes as well as in general uneven illumination is limiting the use of microscopes for quality control. Flat bed scanners developped recently enable to test extendet areas with constant illumination and resolutions down to 5 micron/pixel. We will show in the following the use of flat bed scanners for characterization of raw materials (particles & fibers) aswell as for the quality control of final MMC's and PMC products. Charakterisierung von MMC's und PMC's mittels Scannern Jede Qualitatssicherung fordert Untersuchungsmethoden, die hoch reproduzierbar sind und statistisch gut abgesichert werden konnen. Mit dem traditionellen Mittel zur Bestimmung der Mikrostruktur – dem Mikroskop – ist dies wegen des eingeschrankten Beobachtungsfeldes nur begrenzt moglich. Die in den letzten Jahren zur Verfugung stehenden Scanner erlauben grose Beobachtungsfelder mit Auflosungen bis zu 5 micrometer/pixel und guter Reproduzierbarkeit zu untersuchen. In diesem Beitrag wird gezeigt, wie Scanner als bildgebende Mittel zur Charakterisierung und Qualitatssicherung von MMC's eingesetzt werden konnen. |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |