Junction Temperature Measurement for Paralleled Silicon-Carbide MOSFETs in Conduction Mode
Autor: | Manuel Riefer, Sebastian Strache, Ingmar Kallfass, Jonathan Winkler |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Zdroj: | 2022 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE). |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |