Probing the Single-Event Sensitivity of a COTS 3D-Integrated Imager With Alpha Particle Irradiation

Autor:	M. D. Hu, F. Padgett, M. W. McCurdy, B. D. Sierawski, R. D. Schrimpf, R. A. Reed, M. L. Alles
Rok vydání:	2023
Předmět:	Nuclear and High Energy Physics Nuclear Energy and Engineering Electrical and Electronic Engineering
Zdroj:	IEEE Transactions on Nuclear Science. 70:410-417
ISSN:	1558-1578 0018-9499
DOI:	10.1109/tns.2022.3222099
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f59dee8d43d92a8284f5f2fb41707072 https://doi.org/10.1109/tns.2022.3222099 Zobrazit plný text záznamu