On the Size Effect in MOS Structures under Ionizing Irradiation

Autor:	O. V. Aleksandrov
Rok vydání:	2022
Předmět:	Condensed Matter Physics Atomic and Molecular Physics and Optics Electronic Optical and Magnetic Materials
Zdroj:	Semiconductors. 56:241-245
ISSN:	1090-6479 1063-7826
DOI:	10.1134/s1063782622040017
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f5671abef94ac80cfefcc4a9afba4f6b https://doi.org/10.1134/s1063782622040017 Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu PDF Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.