Advanced Crack Analytics on 3D X-ray Tomography of Irradiated Silicon Carbide Claddings
| Autor: | Fei Xu, Joshua J Kane, Peng Xu, Nikolaus Cordes, Jason L Schulthess, Mahmut Nedim Cinbiz, Sean Gonderman, Christian Deck, Jack Gazza |
|---|---|
| Rok vydání: | 2022 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Microscopy and Microanalysis. 28:208-210 |
| ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|