Coupled Diffusion of Impurity Atoms and Point Defects in Silicon Crystals

Autor:	Oleg Velichko
Rok vydání:	2019
DOI:	10.1142/q0212
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f449b267ad1e1754a215da0c1e2d9dab https://doi.org/10.1142/q0212 Zobrazit plný text záznamu