Mapping analyses of Fe-diffused mc-Si using Mössbauer microscope and photoluminescence

Autor:	Kiyotaka Tanaka, Yuki Akiyama, Kazuo Hayakawa, Ken-ichi Yukihira, Yutaka Yoshida
Rok vydání:	2013
Zdroj:	ICAME 2011 ISBN: 9789400747616
DOI:	10.1007/978-94-007-4762-3_60
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f403030eb8121a8745aa027b5044b416 https://doi.org/10.1007/978-94-007-4762-3_60 Zobrazit plný text záznamu