Charge Trapping and Breakdown Mechanism in Simox

Autor:	Santos Mayo, Peter Roitman, J.S. Suehle
Rok vydání:	2005
Předmět:	Capacitor Materials science business.industry law Electric breakdown Analytical chemistry Optoelectronics Breakdown voltage Charge (physics) Trapping business law.invention
Zdroj:	IEEE International SOI Conference.
DOI:	10.1109/soi.1992.664779
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f2aef6dfea5aea55cc5a05a87b6a6d3a https://doi.org/10.1109/soi.1992.664779 Zobrazit plný text záznamu