ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ДЕФОРМАЦИИ НА ИЗМЕНЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ПОВЕРХНОСТНЫХ СОСТОЯНИЙ, УРОВНЯ ФЕРМИ И ЗАРЯДА ПОВЕРХНОСТИ РАЗДЕЛА НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛЕНОК ТЕЛЛУРИДОВ ВИСМУТА И СУРЬМЫ
| Rok vydání: | 2019 |
|---|---|
| Předmět: |
STRAIN SENSITIVITY COEFFICIENT
CHANGE IN THE CONCENTRATION OF ELECTRONIC SURFACE STATES НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОЛУПРОВОДНИКИ ИЗМЕНЕНИЕ КОНЦЕНТРАЦИИ ЭЛЕКТРОННЫХ ПОВЕРХНОСТНЫХ СОСТОЯНИЙ GRAIN BOUNDARIES NANOCRYSTALLINE BISMUTH-ANTIMONY TELURIDE FILMS НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ ТЕЛУРИДОВ ВИСМУТА СУРЬМЫ МЕЖЗЁРЕННЫЕ ГРАНИЦЫ КОЭФФИЦИЕНТ ТЕНЗОЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЭЛЕКТРОННЫЕ СОСТОЯНИЯ SURFACE ELECTRONIC STATES NANOCRYSTALLINE SEMICONDUCTORS |
| DOI: | 10.24411/2304-2338-2019-11203 |
| Popis: | Работа посвящена исследованию свойств нанокристаллических плёнок теллуридов висмута-сурьмы. В работе рассматриваются вопросы, связанные с изменением концентрации поверхностных состояний, уровня Ферми и заряда поверхности раздела в нанокристаллических пленках теллуридов висмута сурьмы при наложении необратимой циклической деформации. Для получения нанокристаллических пленок мы использовали метод испарения теллуридов висмута сурьмы с последующей конденсацией на полиамидные подложки. Мы использовали высокий уровень автоматизации процесса измерения электрического сопротивления плёнки в процессе наложения циклической деформации. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|