Autor:	T. Saraya, K. Ito, T. Takakura, M. Fukui, S. Suzuki, K. Takeuchi, K. Kakushima, T. Hoshii, K. Tsutsui, H. Iwai, S. Nishizawa, I. Omura, T. Hiramoto
Rok vydání:	2019
Předmět:	Materials science Statistical physics State (computer science) Scaling Voltage
Zdroj:	Extended Abstracts of the 2019 International Conference on Solid State Devices and Materials.
DOI:	10.7567/ssdm.2019.k-3-02
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f0c2e7c946f959e269037e542fe19758 https://doi.org/10.7567/ssdm.2019.k-3-02 Zobrazit plný text záznamu