Bias-temperature-instability and thermal anneal effects of organic thin-film transistors

Autor:	P. Y. Lo, T. S. Hu, P. H. Chen, Pei-Wen Li
Rok vydání:	2010
Předmět:	Materials science Temperature instability Thin-film transistor business.industry Thermal Optoelectronics Nanotechnology business
Zdroj:	Extended Abstracts of the 2010 International Conference on Solid State Devices and Materials.
DOI:	10.7567/ssdm.2010.a-7-3
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::eff477edbb63041ebf5b28d5a9416870 https://doi.org/10.7567/ssdm.2010.a-7-3 Zobrazit plný text záznamu