Analysis for Accurately Fitting the Refractive Index of SiO2Thin Film
Autor: | 晋云霞 Jin Yunxia, 姚建可 Yao Jianke, 黄建兵 Huang Jianbin, 张伟丽 Zhang Weili, 王胭脂 Wang Yanzhi, 范正修 Fan Zhengxiu, 邵建达 Shao Jianda |
---|---|
Rok vydání: | 2008 |
Předmět: | |
Zdroj: | Chinese Journal of Lasers. 35:760-763 |
ISSN: | 0258-7025 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |