Moyens de caractérisation des surfaces et leurs applications en métrologie
Autor: | Zaccaria Silvestri, Stéphane Mace, Daniel Du Colombier, Patrick Pinot |
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Rok vydání: | 2011 |
Předmět: | |
Zdroj: | Revue Française de Métrologie. :11-20 |
ISSN: | 1776-3215 1772-1792 |
DOI: | 10.1051/rfm/2010004 |
Popis: | Dans le cadre du projet de recherche portant sur l'analyse de l'activite de surface appliquee aux besoins de la metrologie de caracterisation de surface a l'echelle nanometrique et de la recherche technologique, de nombreuses ameliorations et adaptations ont ete entreprises sur les dispositifs d'analyse de surface du laboratoire. Cet article se propose de presenter un etat des lieux de ces dispositifs en decrivant les principales ameliorations apportees au cours de ces quatre dernieres annees et les resultats experimentaux qui en decoulent. |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |