5‐2: Tracing‐Based Degradation Estimation Method for Stress‐Profile Algorithm

Autor: Seokah Hong, Joonchul Goh, Jaesung Bae, Dongjoon Kwag, Hyeongjin Kim, Wonjun Choe
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: SID Symposium Digest of Technical Papers. 53:28-31
ISSN: 2168-0159
0097-966X
DOI: 10.1002/sdtp.15407
Databáze: OpenAIRE
Externí odkaz: