APPLICATION OF POOLE-FRENKEL EFFECT AND CHARGE CARRIER INJECTION FOR DEFECT TESTING OF THERMAL SILICON DIOXIDE
Autor: | A. A. Shiryaev, V. M. Vorotyntsev, E. L. Shobolov |
---|---|
Rok vydání: | 2019 |
Předmět: | |
Zdroj: | Electronic Enginering.Semiconductor Devices. 254:29-37 |
ISSN: | 2073-8250 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |