Structure Investigations of Heteroepitaxial CoSi2/Si Layers Formed by Ion Implantation
Autor: | S. Schippel, A. Witzmann, F. F. Komarov, Peter I. Gaiduk |
---|---|
Rok vydání: | 1993 |
Předmět: | |
Zdroj: | Materials Science Forum. :1577-1582 |
ISSN: | 1662-9752 |
DOI: | 10.4028/www.scientific.net/msf.143-147.1577 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |