Impact of Heavy-Ion Irradiation in an 80-V Radiation-Hardened Split-Gate Trench Power UMOSFET
| Autor: | Cheng-Hao Yu, Ying Wang, Meng-Tian Bao, Xing-Ji Li, Jian-Qun Yang, Fei Cao |
|---|---|
| Rok vydání: | 2022 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | IEEE Transactions on Electron Devices. 69:664-668 |
| ISSN: | 1557-9646 0018-9383 |
| DOI: | 10.1109/ted.2021.3135369 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|