Ballistic-electron-emission microscopy onAu−GaAsSchottky diodes using InAs tips

Autor:	C. Eder, J. Smoliner
Rok vydání:	1998
Předmět:	Materials science business.industry Schottky barrier Optoelectronics Schottky diode business Metal–semiconductor junction Ballistic electron emission microscopy Quantum tunnelling
Zdroj:	Physical Review B. 57:9856-9860
ISSN:	1095-3795 0163-1829
DOI:	10.1103/physrevb.57.9856
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e4be97a698d5d577e1a4682bf1db525d https://doi.org/10.1103/physrevb.57.9856 Zobrazit plný text záznamu