Validation of EEPROM Chip Removal and Reinstallation for Retrieval of Electronic Crash Data - Destructive and Non-Destructive Methods

Autor: Jacob Palmer, Connor Smith, Jason P. Zeitler
Rok vydání: 2021
Předmět:
Zdroj: SAE Technical Paper Series.
ISSN: 0148-7191
Databáze: OpenAIRE