In-situ monitoring of plasma-assisted processing of material using optical emission spectroscopy – Role of ionic lines

Autor: Shail Pandey, Vidhi Panchal
Rok vydání: 2023
Předmět:
Zdroj: Materials Today: Proceedings.
ISSN: 2214-7853
DOI: 10.1016/j.matpr.2023.03.392
Databáze: OpenAIRE