Effects of Zr content and annealing on ferroelectricity of as-grown crystalline Hf1-xZrxO2 thin films using Hf[Cp(NMe2)3] and Zr[Cp(NMe2)3] precursors via atomic layer deposition

Autor: Youkyoung Oh, Hyo-Bae Kim, Seung Won Lee, Min Ji Jeong, Tae Joo Park, Ji-Hoon Ahn
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: Ceramics International. 48:25661-25665
ISSN: 0272-8842
Databáze: OpenAIRE