Examination of the I²t criterion for short-circuit testing of connectors
| Autor: | Israel, Toni, Schlegel, Stephan, Großmann, Steffen, Kufner, Tom, Freudiger, George |
|---|---|
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2021 |
| DOI: | 10.13140/rg.2.2.11045.12002 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|