Ion-Induced Auger Electron Emission From Solids

Autor:	J Fabian Derek
Rok vydání:	2017
Předmět:	Auger electron spectroscopy Materials science business.industry Electrical engineering Atomic physics business Ion
Zdroj:	Quantitative Microbeam Analysis
DOI:	10.1201/9780203741528-18
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e130668afaef7affaa1da937450cdeec https://doi.org/10.1201/9780203741528-18 Zobrazit plný text záznamu