Influence of Dopants Profile on Random Dopant Fluctuation and Optimization for Bulk FinFET

Autor: Guangxing Wan, Kunpeng Jia, Huilong Zhu, Xing Wei, Xiaogen Yin
Rok vydání: 2017
Předmět:
Zdroj: ECS Journal of Solid State Science and Technology. 6:M79-M82
ISSN: 2162-8777
2162-8769
DOI: 10.1149/2.0211707jss
Databáze: OpenAIRE