Influence of Dopants Profile on Random Dopant Fluctuation and Optimization for Bulk FinFET
Autor: | Guangxing Wan, Kunpeng Jia, Huilong Zhu, Xing Wei, Xiaogen Yin |
---|---|
Rok vydání: | 2017 |
Předmět: | |
Zdroj: | ECS Journal of Solid State Science and Technology. 6:M79-M82 |
ISSN: | 2162-8777 2162-8769 |
DOI: | 10.1149/2.0211707jss |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |