Cross-sectional TEM study of degraded high power diode lasers
Autor: | S. Müller, W. Späth, J. Luft, W. Jantz, M. Baeumler, G. Herrmann, Cesare Frigeri, J. L. Weyher |
---|---|
Rok vydání: | 2017 |
Předmět: | |
Zdroj: | Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |