Next-generation X-ray Optics for High Resolution Applications

Autor:	Sylvia Jia Yun Lewis, Janos Kirz, Wenbing Yun, Benjamin Stripe, Mark Cordier
Rok vydání:	2018
Předmět:	Optics Materials science business.industry Generation x High resolution business Instrumentation Ray
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 24:304-305
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927618013843
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::dd4d7477e897685638e1625e507ffe69 https://doi.org/10.1017/s1431927618013843 Zobrazit plný text záznamu