Autor:	Yoji Yuge, Hideyo Kagami, Michihiko Inaba
Rok vydání:	1984
Předmět:	Secondary ion mass spectrometry Materials science Transition metal chemistry Dopant Scanning electron microscope Aluminium Lattice defects Analytical chemistry chemistry.chemical_element General Materials Science Liquid bubble Tungsten
Zdroj:	Journal of Materials Science Letters. 3:859-860
ISSN:	1573-4811 0261-8028
DOI:	10.1007/bf00719572
Popis:	Les dopants utilises sont le potassium et l'aluminium. Etude par spectrometrie Auger, spectrometrie SIMS, microscopie electronique a balayage
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::dc1faa207a3a4a141bb50dfefc111b56 https://doi.org/10.1007/bf00719572 Zobrazit plný text záznamu Full text from SpringerLink