Critical current degradation behavior in Bi-2212 round wires under cyclic transverse stress

Autor:	S.Y. Gao, X.S. Yang, Q.B. Hao, C.S. Li, Y. Zhao
Rok vydání:	2022
Předmět:	General Physics and Astronomy General Materials Science
Zdroj:	Cryogenics. 125:103511
ISSN:	0011-2275
DOI:	10.1016/j.cryogenics.2022.103511
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::dae7e4368363e3b7acc58694ccbe92bc https://doi.org/10.1016/j.cryogenics.2022.103511 Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect