Towards Complete Recovery of Circuit Degradation by Annealing With On-Chip Heaters

Autor: J. Diaz-Fortuny, P. Saraza-Canflanca, M. Lofrano, E. Bury, R. Degraeve, B. Kaczer
Rok vydání: 2023
Předmět:
Zdroj: IEEE Electron Device Letters. 44:201-204
ISSN: 1558-0563
0741-3106
DOI: 10.1109/led.2022.3229137
Databáze: OpenAIRE