Autor:	K Suenaga, O Stephan, C Colliex, F Willaime, H Pascard, N Demoncy, A Loiseau
Rok vydání:	2022
Zdroj:	Electron Microscopy and Analysis 1997 ISBN: 9781003063056
DOI:	10.1201/9781003063056-96
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::da8d201740fe1ce3dfaf4fe075c25652 https://doi.org/10.1201/9781003063056-96 Zobrazit plný text záznamu