AAA: Automated, On-ATE AI Debug of Scan Chain Failures

Autor:	Chris Nigh, R.D. Blanton, Gaurav Bhargava
Rok vydání:	2021
Předmět:	Debugging Computer science business.industry media_common.quotation_subject Embedded system Scan chain business media_common
Zdroj:	ITC
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::da04a9a57d6a3ce3344cca213de56030 https://doi.org/10.1109/itc50571.2021.00044 Zobrazit plný text záznamu