Robustness of Passivated ALD Zinc Tin Oxide TFTs to Aging and Bias Stress

Autor:	Christopher R. Allemang, Tae H. Cho, Neil P. Dasgupta, Rebecca L. Peterson
Rok vydání:	2022
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering Electronic Optical and Magnetic Materials
Zdroj:	IEEE Transactions on Electron Devices. 69:6776-6782
ISSN:	1557-9646 0018-9383
DOI:	10.1109/ted.2022.3216791
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::da01528f9638eb8ba6900d3fbdc9bc94 https://doi.org/10.1109/ted.2022.3216791 Zobrazit plný text záznamu