Recording Studies Of Sub-Micron Write Heads By Focussed Ion Beam

Autor:	Lang Vo, B.H.L. Hu, G.L. German, Ching Tsang
Rok vydání:	2005
Předmět:	Optics Materials science Ion beam business.industry business
Zdroj:	1997 IEEE International Magnetics Conference (INTERMAG'97).
DOI:	10.1109/intmag.1997.597328
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d9bf6cfcee033c7158bd691c995ebd5a https://doi.org/10.1109/intmag.1997.597328 Zobrazit plný text záznamu