| Autor: |
T. A. Wesendahl, Gerd U. Auffarth, David J. Apple, J. A. Schmidt, A. v. Recum |
| Rok vydání: |
1993 |
| Zdroj: |
7. Kongreß der Deutschsprachigen Gesellschaft für Intraokularlinsen Implantation ISBN: 9783642501845 |
| DOI: |
10.1007/978-3-642-50183-8_42 |
| Popis: |
Die Oberflachenbeschaffenheit moderner Intraokularlinsen wurde mittels quantitativer dreidimensionaler Non-contact-Profilometrie (TOPO) (WYKO Corp., Tuscon, AZ, USA) untersucht und rasterelektronenmikroskopischen Befunden gegenubergestellt. Das TOPO ist ein kontaktfreies Weislichtinterferometer. Es erlaubt eine zwei- oder dreidimensionale Darstellung von Oberflachenprofilen und hat eine Auflosung im Nanometerbereich (10-9m). Das 3-D-Modell hat einen mit 256×256 Elementen angeordneten Photodiodendetektor. Es konnen verschiedene Vergroserungslinsen benutzt werden; bei dieser Studie wurde eine x20-Linnik-Linse benutzt. Der 2-D-Detektor hat eine lineare Auflosung von 1024 Pixel und scanned einen Bereich von 66 µm/Linie. Das TOPO zeichnet ein dreidimensionales, farbkodiertes Hohenrelief der untersuchten Oberflachenstrukturen auf. Es wurden 4 Intraokularlinsen einer Oberflachenanalyse unterzogen. Alle Linsen zeichneten sich durch glatte Oberflachen aus. Unregelmasigkeiten der Oberflachenstruktur lagen im Bereich von 5,56–10,8 nm. Eine Intraokularlinse wies eine 200 nm tiefe und 200 µm breite Einsenkung im zentralen Optikbereich auf. Die rasterelektronenmikroskopischen Aufnahmen zeigten keine Auffalligkeiten bei allen IOLs. |
| Databáze: |
OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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