Investigation of Random Telegraph Noise Under Different Programmed Cell Vt Levels in Charge Trap Based 3D NAND Flash
Autor: | Xinlei Jia, Lei Jin, Wen Zhou, Jianwei Lu, Salvatore M. Amoroso, Andrew R. Brown, Ko-Hsin Lee, Plamen Asenov, Xi-Wei Lin, Hongtao Liu, An Zhang, Zongliang Huo |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Předmět: | |
Zdroj: | IEEE Electron Device Letters. 43:878-881 |
ISSN: | 1558-0563 0741-3106 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |