Exploring Voltage Scaling technique in XOR Logic Gates using FinFET Devices
| Autor: | Brendler, Leonardo Heitich, Zimpeck, Alexandra Lackmann, Ygor Aguiar, Meinhardt, Cristina, Reis, Ricardo |
|---|---|
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2017 |
| DOI: | 10.13140/rg.2.2.27963.05923 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|