Thickness-dependent physical and nanomechanical properties of AlxGa1−xN thin films

Autor: N. Boughrara, Z. Benzarti, A. Khalfallah, J.C. Oliveira, M. Evaristo, A. Cavaleiro
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: Materials Science in Semiconductor Processing. 151:107023
ISSN: 1369-8001
DOI: 10.1016/j.mssp.2022.107023
Databáze: OpenAIRE