| Autor: |
M. Camp, E.-G. Bergansky, R. H. Ottewill, H. Frieser, Kazuhiko Akashi, E. Zeitler, G. Tochtermann, Emiko Iguchi, Friedrich Lenz, I. S. Kerr, Kan Yamanouchi, A. M. D’Ans, E. Klein, Hiroshi Tochigi, Tatsunosuke Masuda, R. W. Horne |
| Rok vydání: |
1960 |
| Zdroj: |
Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique ISBN: 9783642494819 |
| DOI: |
10.1007/978-3-642-49765-0_8 |
| Popis: |
In einer fruheren Arbeit wurden die Eigenschaften photographischer Schichten bei Elektronenbestrahlung theoretisch und experimentell untersucht (1, 2). Durch Anwendung der Ubertragungstheorie auf das Problem der Wiedergabe kleiner Details im Elektronenmikroskop wurde eine Beziehung hergeleitet, die Angaben uber diejenige photographische Schicht gestattet, mit der eine optimale Aufzeichnung moglich ist. Die Auswertung dieser Ergebnisse ist der Inhalt der vorliegenden Arbeit. |
| Databáze: |
OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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