Suppression of Leakage Currents in Photo-multiplication Photodetectors with Oxidation-Controlled Metal Interfacial Layer

Autor: Seong Bin Lim, Ji-Young Lee, Tae Hun Lim, Seri Lee, Seung Ho Lee, Gyu Min Kim, Se Young Oh
Rok vydání: 2023
Předmět:
Zdroj: Electronic Materials Letters.
ISSN: 2093-6788
1738-8090
DOI: 10.1007/s13391-023-00429-0
Databáze: OpenAIRE
Externí odkaz: