Physics-Guided Machine Learning for the Analysis of Low SNR STEM-EDXS Data

Autor: Adrien Teurtrie, Nathanaël Perraudin, Thomas Holvoet, Hui Chen, Duncan T L Alexander, Guillaume Obozinski, Cécile Hébert
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: Microscopy and Microanalysis. 28:2978-2979
ISSN: 1435-8115
1431-9276
Databáze: OpenAIRE