Empirical study on security verification and assessment of neural network accelerator
Autor: | Yean Ru Chen, Tzu Fan Wang, Si-Han Chen, Yi-Chun Kao |
---|---|
Rok vydání: | 2023 |
Předmět: | |
Zdroj: | Microprocessors and Microsystems. 99:104845 |
ISSN: | 0141-9331 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |