On Modeling CMOS Library Cells for Cell Internal Fault Test Pattern Generation

Autor:	Xijiang Lin, Wu-Tung Cheng, Takeo Kobayashi, Andreas Glowatz
Rok vydání:	2021
Zdroj:	2021 IEEE 30th Asian Test Symposium (ATS).
DOI:	10.1109/ats52891.2021.00030
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d0ed483bca1411d8e6fe444180241987 https://doi.org/10.1109/ats52891.2021.00030 Zobrazit plný text záznamu