Effect of Epitaxial Layer Parameters on the Avalanche Energy of Power VDMOS

Autor:	Changze Li, Min Ren, Lin Tao, Xin Zhang, Shiheng Yu, Xinzhang Lai, Ningze Zhuo, Bo Zhang
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE 5th International Conference on Electronics Technology (ICET).
DOI:	10.1109/icet55676.2022.9824291
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d02bff92510fe282214a3b4f4e6240e6 https://doi.org/10.1109/icet55676.2022.9824291 Zobrazit plný text záznamu