Pushing back the frontiers of CRYO in 120 kV TEMs

Autor:	Gerd Benner, V. Seybold, S. A. Hiller, C Dietl, Marlene Thaler
Rok vydání:	2008
Předmět:	Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 14:1326-1327
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927608089095
Popis:	Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2008 in Albuquerque, New Mexico, USA, August 3 – August 7, 2008
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cf7200b032e9deade6fc55b2a4a85e93 https://doi.org/10.1017/s1431927608089095 Zobrazit plný text záznamu