Sec-Gan: Generative Adversarial Network for Just-in-Time Defect Prediction

Autor:	Shir Cohen
Rok vydání:	2022
Předmět:	History Polymers and Plastics Business and International Management Industrial and Manufacturing Engineering
Zdroj:	SSRN Electronic Journal.
ISSN:	1556-5068
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cf6aa16c650478b5d6137a22d2bcdb92 https://doi.org/10.2139/ssrn.4289917 Zobrazit plný text záznamu