Study and modeling of gate effect on the electrical performance of the nanoscale gate all around MOSFET transistor

Autor:	Yousfi Abderrahim
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2019
DOI:	10.13140/rg.2.2.31241.70242
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ce3e0828199440028f0c2eaca2986ce9 Zobrazit plný text záznamu