Electromigration in Solder Joints Using Sn-3.0Cu Solder in Power Modules

Autor: Kimihiro Yamanaka, Akihiro Yamada, Fu Okuda, Takumi Ogasawara, Naoki Kondo
Rok vydání: 2023
Předmět:
Zdroj: Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging. 26:110-116
ISSN: 1884-121X
1343-9677
Databáze: OpenAIRE