Electromigration in Solder Joints Using Sn-3.0Cu Solder in Power Modules
Autor: | Kimihiro Yamanaka, Akihiro Yamada, Fu Okuda, Takumi Ogasawara, Naoki Kondo |
---|---|
Rok vydání: | 2023 |
Předmět: | |
Zdroj: | Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging. 26:110-116 |
ISSN: | 1884-121X 1343-9677 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |